對產(chǎn)品或原料使用金屬探測儀來進行檢測時，其可能會因為外部環(huán)境所產(chǎn)生的一些因素而導致設(shè)備所具有的檢測效果產(chǎn)生一定程度的影響。并且其設(shè)備是通過檢測探頭所產(chǎn)生的磁場來對含有金屬異物的產(chǎn)品機芯檢測的。
當檢測儀周圍所具有的磁場可能會對設(shè)備的檢測效果造成一定程度的影響。并且當磁場與設(shè)備之間所具有的距離越近，會使得設(shè)備擁有的靈敏度也會產(chǎn)生越嚴重的影響。
所以當使用兩個或兩個以上的檢測頻率來對產(chǎn)品進行檢測時，其能夠擁有較良好的檢測效果。并且其還可以利用相應的檢測頻率來檢測產(chǎn)品效應，但會使得非鐵類磁性金屬出現(xiàn)靈敏度降低。
檢測儀設(shè)備內(nèi)部所具有的一些零件也可能會影響到設(shè)備所具有的檢測效果。當設(shè)備的零件出現(xiàn)損傷時，會使得設(shè)備無法進行正常的工作。而且當探測探頭之中的零件出現(xiàn)損壞，則不能夠?qū)饘龠M行檢測，從而會對金屬檢測儀所擁有的檢測效果造成較大程度的影響。
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